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立式光彈測試儀

簡要描述:立式光彈測試儀:光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構(gòu)件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應力雙折射/殘余應力,以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。

  • 產(chǎn)品型號:ANA6000P-V
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-03-14
  • 訪  問  量:343

詳細介紹

產(chǎn)品簡介:

產(chǎn)品名稱:立式光彈測試儀

 號:ANA6000P-V

 用:測試SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應力雙折射/殘余應力,以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。

安賽斯立式光彈測試儀:光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構(gòu)件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以測試SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應力雙折射/殘余應力,以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。

立式光彈測試儀主要技術(shù)參數(shù):

1.       測試面積(即光源尺寸)

標準尺寸為300 mm×300mm,其它尺寸可以定制,最大600mm×500mm

2.       相機參數(shù)

2248*2048原始分辨率,輸出41224*1024的偏振圖像。幀率3679。

3.       應力雙折射量程

基本型:量程為工作波長的1/4(以紅光為例,量程即157.5nm);

增強型:2296nm。需要采用藍、綠兩種顏色的光源進行測試,并進行相位解包裹處理;

? 3. 測試分辨率與精度

0.8mm厚的鈣鈉玻璃為例:應力測試的分辨率為0.2MPa:應力測試的精度:1.0MPa。

應力雙折射的測試分辨率:0.1nm,精度:1.0nm

產(chǎn)品特色:

與傳統(tǒng)/常規(guī)的光彈儀相比,本立式光彈測試儀具有如下特點:

1.     結(jié)構(gòu)簡單

主要部件包括:偏振光源、傾斜平臺(用于晶體試件測試)、濾光片轉(zhuǎn)輪、像素偏振相機、高配筆記本電腦(內(nèi)存16G以上)及處理軟件,不含任何可旋轉(zhuǎn)的光學偏振器件。

2.     操作簡單,可以實現(xiàn)快速甚至實時測試

只需一次拍照即可同時獲取試件的相位差場和主應力方向場,避免了傳統(tǒng)方法在定量測試時的復雜操作,且在平面應力的條件下可以分離出各應力分量;

3.     靈敏度高且不受環(huán)境光的干擾

測試靈敏度是傳統(tǒng)光彈法/設(shè)備的兩倍(物理靈敏度),且無論相位差多小,都可以用最大的灰度梯度圖像表示(顯示靈敏度高);由于采用不同偏振圖像之間的相減運算,使得測試幾乎不受環(huán)境光的干擾。

4.     多種測試波長可選并快速切換

切換方式包括RGB三色LED光源(中心波長分別為:625nm、525nm465nm)的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。

5.     可以根據(jù)客戶要求定制產(chǎn)品

在某些特殊情況下,客戶需要用自己的相機和光源,我們可以根據(jù)需要對產(chǎn)品進行定制,滿足客戶的需要。

安賽斯光彈儀工作原理

設(shè):圓盤試件(直徑D,厚度d)受對徑壓縮載荷F的作用,試件中心點O的主應力分別是:

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根據(jù)應力-光學定律,應力雙折射材料的主應力差與相位差(?)的關(guān)系如下:

    1701418521454.png


其中C為待求的光彈系數(shù),λ為測試光的波長。

將(1)(2)關(guān)聯(lián)起來,有:

1701418548206.png


通過光彈實驗確定圓形試件中心點的位相差?,即可得到光彈系數(shù)。


1701418577022.png

1701418597380.png


實驗示意及應用范圍:

 立式光彈儀利用應力雙折射性質(zhì),在工程上可以制成各種機械零件的透明塑料模型,然后模擬零件的受力情況,觀察、分析偏振光干涉的色彩和條紋分布,從而判斷零件內(nèi)部的應力分布。

1701418632006.png

1701418660735.png


應力雙折射信息


圓盤徑向受壓實驗:


1701418734429.png

U型塊壓彎組合實驗:

1701418782503.png

光彈性方法直觀,能直接顯示應力集中區(qū)域,并準確給出應力集中部分的量值;它不但可以得到便捷應力而且能夠求的結(jié)構(gòu)的內(nèi)部應力。特別是這一方法不受形狀和載荷的限制,可以對工程復雜結(jié)構(gòu)進行應力分析。

獲取更多立式光彈儀產(chǎn)品咨詢,請聯(lián)系安賽斯(ANALYSIS)工作人員,400 8816 976






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